
|
В: О: S.M.A.R.T. (англ. Self Monitoring Analysing and Reporting Technology) — технология оценки состояния жёсткого диска встроенной аппаратурой самодиагностики, а также механизм предсказания времени выхода его из строя. По материалам с сайта wikipedia.org.
В: О: SMART производит наблюдение за основными характеристиками накопителя, каждая из которых получает оценку. Характеристики можно разбить на две группы:
Данные хранятся в шестнадцатеричном виде называемом «raw value» а потом пересчитывает в «value», значение, символизирующее надёжность относительно некоторого эталонного значения. Обычно «value» располагается в диапазоне от 0 до 100 (некоторые атрибуты имеют значения от 0 до 200 и от 0 до 253). Высокая оценка говорит об отсутствии изменений данного параметра или медленном его ухудшении. Низкая говорит о возможном скором сбое. Значение, меньшее чем минимальное значение, при котором производителем гарантируется безотказная работа накопителя, означает выход узла из строя. Технология SMART позволяет осуществлять:
Следует заметить, что технология SMART позволяет предсказывать выход устройства из строя в результате механических неисправностей, что составляет около 60 % от причин, по которым винчестеры выходят из строя. Предсказать последствия скачка напряжения или повреждения накопителя в результате удара, SMART неспособен. Следует отметить, что накопители НЕ МОГУТ сами сообщать о своем состоянии посредством технологии SMART, для этого существуют специальные программы. Таким образом, использовании технологии SMART немыслимо без двух составляющих:
Программы, отображающие состояние SMART атрибутов, работают по следующему алгоритму:
По материалам с сайта wikipedia.org.
В: О: Полная таблица всех возможных атрибутов SMART выглядит следующим образом:
По материалам с сайта wikipedia.org. |
![]()
0
—
0
Эту статью не следует рассматривать как руководство пользователя или документацию для программистов.
Цель проделанной мною работы — попытаться разьяснить в приличной, доступной, а главное — рускоязычной форме, все особенности данной технологии. Естесственно, охватить ПОЛНОСТЬЮ все возможности технологии S.M.A.R.T. просто не возможно по причине ужасающего факта отсутствия какой-либо документации и нежелания подавляющего числа производителей жестких дисков предоставить необходимую информацию или вести какие-либо переговоры.
Текст статьи постоянно обновляется, поэтому на возможные неточности и грамматические ошибки прошу не обращать внимания. Но если Вы заметите явную ошибку или «ужасающую» 🙂 неточность — пожалуйста, напишите мне об этом.
Я с удовольствием приму любые комментарии по тексту, а также Ваши пожелания и дополнения.
1.1. Общее описание.
Технология S.M.A.R.T. — Self-Monitoring, Analysis and Reporting Technology (от англ. «Технология Самодиагностики, Анализа и Отчета») — была разработана для повышения надежности и сохранности данных на жестких дисках. В большинстве случаев, SMART-совместимые устройства позволяют предсказать появление наиболее вероятных ошибок и, тем самым, дают пользователю возможность своевременно сделать резервную копию данных и/или полностью заменить накопитель до выхода его из строя.
S.M.A.R.T. представляет собой набор мини-подпрограмм, которые являются частью микрокода накопителя и определяют поддерживаемые диагностические функции. Наиболее распространенные среди них:
- набор атрибутов, отражающих состояние отдельных параметров накопителя (до 30)
- внутренние тесты накопителя (self-test)
- журналы S.M.A.R.T. (ошибок, общего состояния, дефектных секторов и т.п.)
В настоящий момент не существует официальной документации или стандарта на технологию S.M.A.R.T. В связи с этим, производители не публикуют полные характеристики и поддерживаемые функции S.M.A.R.T. в своих накопителях. Обязательный минимум описан в последнем стандарте ATA/ATAPI-6.
1.2. Развитие технологии S.M.A.R.T.
История технологии S.M.A.R.T. не так уж и богата подробностями:
-
SMART I предусматривал мониторинг основных жизненно важных параметров и запускался только после команды по интерфейсу
-
в SMART II появилась возможность фоновой проверки поверхности, которая выполнялась накопителем автоматически во время «холостого хода»; появилась функция журналирования ошибок
-
в SMART III впервые появилась не только функция обнаружения дефектов поверхности, но и возможность их восстановления «прозрачно» для пользователя и многие другие новшества
Известно, что первыми разработали основы и предложили эту технологию совместно Western Digital, Seagate и Quantum. После этого их уже поддержали такие компании как IBM, Maxtor и Samsung. Hitachi приняла участие в развитии технологии S.M.A.R.T. уже на стадии разработки SMART II, первыми предложив методику полной самодиагностики накопителя (extended self-test).
В настоящее время производители жестких дисков готовятся принять к использованию новый вариант технологии S.M.A.R.T. — «1024 S.M.A.R.T.», характерной особенностью которого будет заметно бОльший размер журналов, повсеместное использование мультисекторных журналов, более точные алгоритмы анализа показаний встроенных в накопитель сенсоров (термодатчики, сенсоры ударов, и т.п.) и многое другое. Вот несколько новых функций:
-
введение алгоритма анализа температурного режима накопителя
-
введение ограничения по минимальной и максимальной температуре в рабочем состоянии
-
введение счетчика общего количества записанных секторов на протяжении жизненного цикла накопителя
-
введение счетчика запусков внутренних алгоритмов восстановления (recovery counters)
Главным же плюсом можно считать введение новых атрибутов, которые позволят контролировать состояние и рабочие характеристики по каждой из головок чтения/записи:
-
относительная устойчивость (стабильность «полета») головки
-
исправление ошибок чтения (со «скрытыми» повторными попытками)
-
автоматическое перераспределение дефектных участков поверхности при операциях записи
-
счетчик-накопитель G-List для учета количества принятых ударных нагрузок
-
счетчик-накопитель S-List для учета общего количества «программных» ошибок
Атрибуты.
Атрибуты S.M.A.R.T. — особые характеристики, которые используются при анализе состояния и запаса производительности накопителя. Атрибуты выбираются производителем накопителя, основываясь на способности этих атрибутов предсказывать ухудшение рабочих характеристик накопителя или определить его дефектность. Каждый производитель имеет свой характерный набор атрибутов и может свободно вносить изменения в этот набор в соответствиии со своими собственными требованиями и без уведомления об этом фирм-продавцов и конечных пользователей.
1.3.1. Значения атрибутов.
Значения атрибутов (value) используются для представления относительной надежности отдельного эксплуатационного или эталонного атрибута. Допустимое значение атрибута лежит в диапазоне от 1 до 255. Высокое значение атрибута говорит о том, что результат анализа данной рабочей характеристики указывает на низкую вероятность ее ухудшения или выхода накопителя из строя. Соответственно, низкое значение атрибута говорит о том, что результат анализа данной рабочей характеристики указывает на высокую вероятность ее ухудшения или выхода накопителя из строя.
1.3.2. Пороговые значения атрибутов.
Каждый атрибут имеет собственное пороговое значение (threshold), которое используется для сравнения со значением атрибута (value) и указывает на ухудшение рабочих характеристик или дефектность накопителя. Числовое значение порогового атрибута определяется производителем накопителя через конструкционные особенности накопителя и анализ результатов испытаний на надежность. Пороговое значение каждого атрибута указывает на нижнюю допустимую границу значения атрибута, вплоть до которой сохраняется положительный статус надежности.
Пороговые значения устанавливаются в заводских условиях производителем накопителя и, в большинстве случаев, могут быть изменены только после переключения накопителя в технологический (factory mode). Допустимое пороговое значение атрибута может находится в диапазоне от 1 до 255.
Если значение одного или более атрибутов, имеющих тип pre-failure (в HDD Speed отмечаются символом «*«), меньше или равно соответствующего порогового значения, то это свидетельствует о предстоящем ухудшении рабочих характеристик и/или полном выходе накопителя из строя.
1.3.3. Краткое описание основных атрибутов.
Данный перечень атрибутов является наиболее полным из доступных на сегодняшний момент в Сети или иных источниках. Назначение атрибутов и способ интерпретации их значений выявлены либо опытным путем, либо получены от служб технической поддержки компаний-производителей накопителей.
Ниже приведена сводная таблица всех известных мне атрибутов (55) и краткое описание к большинству (38) из них.
| ID | Название атрибута |
|---|---|
| 0 | = атрибут не используется |
| 1 | Raw Read Error Rate |
| 2 | Throughput Performance |
| 3 | Spin Up Time |
| 4 | Start/Stop Count |
| 5 | Reallocated Sector Count |
| 6 | Read Channel Margin |
| 7 | Seek Error Rate |
| 8 | Seek Time Performance |
| 9 | Power-On Hours Count |
| 10 | Spin Retry Count |
| 11 | Recalibration Retries |
| 12 | Device Power Cycle Count |
| 13 | Soft Read Error Rate |
| ?? | Emergency Re-track (Hitachi) |
| ?? | ECC On-The-Fly Count (Hitachi) |
| 96 | ? (Maxtor) |
| 97 | ? (Maxtor) |
| 98 | ? (Maxtor) |
| 99 | ? (Maxtor) |
| 100 | ? (Maxtor) |
| 101 | ? (Maxtor) |
| 191 | G-Sense Error Rate |
| 192 | Power-Off Retract Cycle |
| 193 | Load/Unload Cycle Count |
| 194 | Temperature |
| 195 | ? (Quantum AS, Seagate, Maxtor) |
| 196 | Reallocation Events Count |
| 197 | Current Pending Sector Count |
| 198 | Uncorrectable Sector Count |
| 199 | UltraDMA CRC Error Rate |
| 200 | Write Error Rate (в WD — MultiZone Error Rate) |
| 201 | TA Counter Detected |
| 202 | TA Counter Increased |
| 203 | ? (Maxtor) |
| 204 | ? (Maxtor) |
| 205 | ? (Maxtor) |
| 206 | ? (Maxtor) |
| 207 | ? (Maxtor) |
| 208 | ? (Maxtor) |
| 209 | ? (Maxtor) |
| 220 | Disk Shift |
| 221 | G-Sense Error Rate (в Hitachi — Shock Sense Error Rate) |
| 222 | Loaded Hours |
| 223 | Load/Unload Retry Count |
| 224 | Load Friction |
| 225 | Load/Unload Cycle Count |
| 226 | Load-in Time |
| 227 | Torque Amplification Count |
| 228 | Power-Off Retract Count |
| 229 | ? (IBM DTTA, thanx to Vladislav Shaklein) |
| 230 | GMR Head Amplitude |
| 231 | Temperature |
| 240 | Head Flying Hours (Hitachi) |
| 250 | Read Error Retry Rate |
Краткое описание известных атрибутов.
-
* (используется в программе HDD Speed)
Данный указатель показывает, что соответствующий атрибут S.M.A.R.T. является критическим для нормального функционирования накопителя. Ухудшение значений таких атрибутов с наибольшей вероятностью приводит к выходу накопителя из строя. В новых материнских платах BIOS имеют встроенную функцию контроля состояния накопителя именно по этим атрибутам. -
Raw Read Error Rate
Частота появления ошибок при чтении данных с диска.
Данный параметр показывает частоту появления ошибок при операциях чтения с поверхности диска по вине аппаратной части накопителя. -
Throughput Performance
Средняя производительность (пропускная способность) диска.Уменьшение значения value этого атрибута с большой вероятностью указывает на проблемы в накопителе.
-
Spin Up Time
Время раскрутки шпинделя.
Среднее время раскрутки шпинделя диска от 0 RPM до рабочей скорости. Предположительно, в поле raw value содержится время в миллисекундах/секундах. -
Start/Stop Count
Количество циклов запуск/останов шпинделя.
Поле raw value хранит общее количество включений/выключений диска. -
Reallocated Sectors Count
Количество переназначенных секторов.
Когда жесткий диск встречает ошибку чтения/записи/верификации он пытается переместить данные из него в специальную резервную область (spare area) и, в случае успеха, помечает сектор как «переназначенный». Также, этот процесс называют remapping, а переназначенный сектор — remap. Благодаря этой возможности, на современных жестких дисках очень редко видны [при тестировании поверхности] так называемые bad block. Однако, при большом количестве ремапов, на графике чтения с поверхности будут заметны «провалы» — резкое падение скорости чтения (до 10% и более).
Поле raw value содержит общее количество переназначенных секторов. -
Read Channel Margin
Запас канала чтения.
Назначение этого атрибута не документировано и в современных накопителях он не используется. -
Seek Error Rate
Частота появления ошибок позиционирования БМГ.
В случае сбоя в механической системе позиционирования, повреждения сервометок (servo), сильного термического расширения дисков и т.п. возникают ошибки позиционирования. Чем их больше, тем хуже состояние механики и/или поверхности жесткого диска. -
Seek Time Performance
Средняя производительность операций позиционирования БМГ.
Данный параметр показывает среднюю скорость позиционирования привода БМГ на указанный сектор. Снижение значения этого атрибута говорит о неполадках в механике привода. -
Power-On Hours
Количество отработанных часов во включенном состоянии.
Поле raw value этого атрибута показывает количество часов (минут, секунд — в зависимости от производителя), отработанных жестким диском. Снижение значения (value) атрибута до критического уровня (threshold) указывает на выработку диском ресурса (MTBF — Mean Time Between Failures). На практике, даже падение этого атрибута до нулевого значения не всегда указывает на реальное исчерпывание ресурса и накопитель может продолжать нормально функционировать. -
Spin Retry Count
Количество повторов попыток старта шпинделя диска.
Данный атрибут фиксирует общее количество попыток раскрутки шпинделя и его выхода на рабочую скорость, при условии, что первая попытка была неудачной. Снижение значения этого атрибута говорит о неполадках в механике привода. -
Recalibration Retries
Количество повторов попыток рекалибровки накопителя.
Данный атрибут фиксирует общее количество попыток сброса состояния накопителя и установки головок на нулевую дорожку, при условии, что первая попытка была неудачной. Снижение значения этого атрибута говорит о неполадках в механике привода. -
Device Power Cycle Count
Количество полных циклов запуска/останова жесткого диска. -
Soft Read Error Rate
Частота появления «программных» ошибок при чтении данных с диска.
Данный параметр показывает частоту появления ошибок при операциях чтения с поверхности диска по вине программного обеспечения, а не аппаратной части накопителя. -
Emergency Re-track
-
ECC On-The-Fly Count
-
Load/Unload Cycle Count
Количество циклов вывода БМГ в специальную парковочную зону/в рабочее положение.
Подробнее — см. описание технологии Head Load/Unload Technology. -
Temperature
Температура.
Данный параметр отражает в поле raw value показание встроенного температурного сенсора в градусах Цельсия. -
Reallocation Event Count
Количество операций переназначения (ремаппинга).
Поле raw value этого атрибута показывает общее количество попыток переназначения сбойных секторов в резервную область, предпринятых накопителем. При этом, учитываются как успешные, так и неудачные операции. -
Current Pending Sector Count
Текущее количество нестабильных секторов.
Поле raw value этого атрибута показывает общее количество секторов, которые накопитель в данный момент считает претендентами на переназначение в резервную область (remap). Если в дальнейшем какой-то из этих секторов будет прочитан успешно, то он исключается из списка претендентов. Если же чтение сектора будет сопровождаться ошибками, то накопитель попытается восстановить данные и перенести их в резервную область, а сам сектор пометить как переназначенный (remapped). Постоянно ненулевое значение raw value этого атрибута говорит о низком качестве (отдельной зоны) поверхности диска. -
Uncorrectable Sector Count
Количество нескорректированных ошибок.
Атрибут показывает общее количество ошибок, возникших при чтении/записи сектора и которые не удалось скорректировать. Рост значения в поле raw value этого атрибута указывает на явные дефекты поверхности и/или проблемы в работе механики накопителя. -
UltraDMA CRC Error Count
Общее количество ошибок CRC в режиме UltraDMA.
Поле raw value содержит количество ошибок, возникших в режиме передачи данных UltraDMA в контрольной сумме (ICRC — Interface CRC).Примечание автора
. Практика, собранная статистика и изучение журналов ошибок SMART показывают: в большинстве случаев ошибки CRC возникают при сильном завышении частоты PCI (больше номинальных 33.6 MHz), сильно перекрученом кабеле, а также — по вине драйверов ОС, которые не соблюдают требований к передачи/приему данных в режимах UltraDMA.
-
Write Error Rate (Multi Zone Error Rate)
Частота появления ошибок при записи данных.
Показывает общее количество ошибок, обнаруженных во время записи сектора. Чем больше значение в поле raw value (и ниже значение value), тем хуже состояние поверхности диска и/или механики привода. -
Disk Shift
Сдвиг пакета дисков относительно оси шпинделя.
Актуальное значение атрибута содержится в поле raw value. Единицы измерения — не известны.
Подробности — см. в описании технологии G-Force Protection.Примечание
. Сдвиг пакета дисков возможен в результате сильной ударной нагрузки на накопитель в результате его падения или по иным причинам.
-
G-Sense Error Rate
Частота появления ошибок в результате ударных нагрузок.
Данный атрибут хранит показания ударочувствительного сенсора — общее количество ошибок, возникших в результате полученных накопителем внешних ударных нагрузок (при падении, неправильной установке, и т.п.).
Подробнее — см. описание технологии G-Force Protection. -
Loaded Hours
Нагрузка на привод БМГ, вызванная общей наработкой часов накопителем.
Учитывается только период, в течении которого головки находились в рабочем положении. -
Load/Unload Retry Count
Нагрузка на привод БМГ, вызванная многочисленными повторениями операций чтения, записи, позиционирования головок и т.п. Учитывается только период, в течении которого головки находились в рабочем положении. -
Load Friction
Нагрузка на привод БМГ, вызванная трением в механических частях накопителя.
Учитывается только период, в течении которого головки находились в рабочем положении. -
Load/Unload Cycle Count
Общее количество циклов нагрузки на привод БМГ.
Учитывается только период, в течении которого головки находились в рабочем положении. -
Load-in Time
Общее время нагрузки на привод БМГ.
Предположительно, данный атрибут показывает общее время работы накопителя под нагрузкой, при условии, что головки находятся в рабочем состоянии (вне парковочной зоны). -
Torque Amplification Count
Количество усилий вращающего момента привода. -
Power-Off Retract Count
Количество зафиксированных повторов в(ы)ключения питания накопителя. -
GMR Head Amplitude
Амплитуда дрожания головок (GMR-head) в рабочем состоянии. -
Head Flying Hours
-
Read Error Retry Rate
1.3.4. Типы атрибутов.
Каждый атрибут может иметь некоторый набор флагов, определяющих его функциональные особенности. Ниже приводятся все шесть основных типов и их краткие описания.
-
Pre-failure (PF). Если атрибут имеет этот тип, то поле threshold атрибута содержит минимально допустимое значение атрибута, ниже которого не гарантируется работоспособность накопителя и резко увеличивается вероятность его выхода из строя.
-
On-line collection (OC). Указывает, что значение данного атрибута обновляется (вычисляется) во время выполнения on-line тестов S.M.A.R.T. или же во время обоих видов тестов (on-line/off-line). В противном случае, значение атрибута обновляется только при выполнении off-line тестов.
-
Performance related (PR). Указывает на то, что значение этого атрибута напрямую зависит от производительности накопителя по отдельным показателям (seek/throughput/etc. performance). Обычно обновляется после выполнения self-test`ов SMART.
-
Error rate (ER). Указывает на то, что значение атрибута отражает относительную частоту ошибок по данному параметру (raw read/write, seek, etc.).
-
Events count (EC). Указывает на то, что атрибут является счетчиком событий.
-
Self-preserve (SP). Указывает на то, что значение атрибута обновляется и сохраняется автоматически (обычно при каждом старте накопителя и при выполнении тестов SMART).
Автономное сканирование поверхности
(off-line read scanning)
Большинство накопителей обеспечивают поддержку автономного сканирования поверхности, которое является одной из функций подпрограммы автономного сбора данных о состоянии накопителя (off-line data collection). При выполнении этой функции, накопитель выполняет полное сканирование поверхности путем чтения каждого сектора и замещением ненадежных секторов на запасные сектора из резервной области (spare area) для предотвращения потери пользовательских данных.
Примечание. Если во время выполнения сканирования накопитель получает команду по интерфейсу, то процесс сканирования прерывается и накопитель приступает к обработке поступившей команды. При этом гарантируется максимальное время реагирования на поступившую команду — до 2 секунд.
Журналы ошибок
(SMART error log)
В большинстве современных накопителей реализованна функция журналирования появляющихся в течении работы накопителя ошибок или иных событий. В основном, накопители предоставляют информацию о пяти последних ошибках. При этом сохраняются последние 5 поступивших в накопитель команд, предшествующих возникновению этой ошибки, и другая необходимая информация.Накопитель может также поддерживать дополнительные журналы. Их структура, размер и назначение устанавливаются фирмой-производителем. При обновлении микропрограммы накопителя, все журналы накопителя очищаются, а общее количество ошибок устанавливается в значение 0.
Примечание: в журналах сохраняется время по внутренним часам накопителя, т.е. либо общее отработанное время на данный момент, либо время от момента последнего включения накопителя.
1.5.1. Log Directory
Тип: Каталог журналов S.M.A.R.T.
Вид доступа: только чтение (RO)
Размер: 1 сектор (512 байт)
Примечание: поддержка мультисекторных журналов
Данный журнал представляет собой своего рода каталог, в котором указаны адреса всех поддерживаемых журналов S.M.A.R.T. и их размер в секторах. Максимальное количество журналов — 255.
1.5.2. Summary Error Log
Тип: Суммарный журнал ошибок
Вид доступа: только чтение (RO)
Размер: 1 сектор (512 байт)
Примечание: поддерживается только 28-битная адресация секторов (28-bit LBA)
Данный журнал содержит информацию об общем количестве ошибок, зафиксированных накопителем с момента первого включения (или обновления микропрограммы) и подробные записи о последних 5 ошибках. Для каждой из 5 зафиксированных ошибок сохраняются последние 5 поступивших в накопитель команд. В этом журнале сохраняются все ошибки UNC, IDNF, ошибки сервосистемы, записи/чтения и т.д. При этом, для каждой команды сохраняется значения всех регистров, время и текущее состояние накопителя на момент подачи самой команды. Ошибки, вызванные подачей неподдерживаемых команд или командами с ошибочными параментами не фиксируются в журнале. Если накопитель поддерживает Comprehensive Error Log, то журнал Summary Error Log дублирует последние пять записей из журнала Comprehensive Error Log.
1.5.3. Comprehensive Error Log
Тип: Комплексный журнал ошибок [SMART Error Logging]
Вид доступа: только чтение (RO)
Размер: 1..51 сектор (максимум 26,112 байт)
Примечание: поддерживается только 28-битная адресация секторов (28-bit LBA)
Данный журнал содержит подробную информацию о общем количестве ошибок, зафиксированных накопителем с момента первого включения (или обновления микропрограммы) и подробные записи о последних ошибках. Максимальное количество сохраняемых ошибок — 255. Для каждой зафиксированной ошибки сохраняются последние 5 поступивших в накопитель команд. В этом журнале сохраняются все ошибки UNC, IDNF, ошибки сервосистемы, записи/чтения и т.д. При этом, для каждой команды сохраняется значения всех регистров, время и текущее состояние накопителя на момент подачи самой команды. Ошибки, вызванные подачей неподдерживаемых команд или командами с ошибочными параментами не фиксируются в журнале.
1.5.4. Extended Comprehensive Error Log
Тип: Расширенный комплексный журнал ошибок [SMART Error Logging]
Вид доступа: только чтение (RO)
Размер: 1..65,536 секторов (максимум 32 Мбайт)
Примечание: поддерживается 28/48-битная адресация секторов
Назначение данного журнала аналогично журналу Comprehensive Error Log и содержит в себе копию его записей, однако этот журнал имеет иную структуру, которая позволяет реализовать поддержку как 28-битной, так и 48-битной адресации секторов. Максимальное количество сохраняемых ошибок — 327,680.
1.5.5. Self-test Log
Тип: Журнал результатов самоконтроля [SMART self-test]
Вид доступа: только чтение (RO)
Размер: 1 сектор (512 байт)
Примечание: поддерживается только 28-битная адресация секторов (28-bit LBA)
Данный журнал содержит информацию о результатах выполнения команд внутренней самодиагностики накопителя. Журнал может хранить до 21 записи. При превышении этого количества, журнал начинает заполняться заново, перезаписывая 1-ю запись 22-й, 2-ю — 23-ей и так далее. В каждой записи журнала сохраняется регистр с номером теста, код статуса выполнения теста, время на момент запуска/прерывания теста, номер текущей контрольной точки (или точки останова) теста, а также LBA-адрес сектора, на котором произошло прерывание/отмена теста.
1.5.6. Extended Self-test Log
Тип: Расширенный журнал результатов самоконтроля [SMART self-test]
Вид доступа: только чтение (RO)
Размер: 1..65,536 секторов (максимум 32 Мбайт)
Примечание: поддерживается 28/48-битная адресация секторов
Назначение данного журнала аналогично журналу Self-test Log и содержит в себе копию его записей, однако этот журнал имеет иную структуру, которая позволяет реализовать поддержку как 28-битной, так и 48-битной адресации секторов. Максимальное количество записей — 1,179,648.
1.5.7. Streaming Performance Log
Тип: Журнал параметров производительности потоков [Streaming]
Вид доступа: только чтение (RO)
Размер: 1..65,536 секторов (максимум 32 Мбайт)
Данный журнал содержит информацию о переданных накопителю параметров командами управления режимом Automatic Acoustic Management и Typical Host Interface Sector Time (подробнее — см. ATA/ATAPI-6 rev 1e). В журнале сохраняется набор параметров, по которым производится настройка накопителя и перевод в его в режим, когда все операции чтения/записи возможны только специальными командами и передача данных происходит в виде непрерывного потока, для которого гарантированны и учитываются все временные интервалы (на обработку команды, чтение и передачу данных; минимальные/максимальные задержки, время доступа, позиционирования и т.п.). Подробнее о назначении данного вида журналов можно узнать из описания технологии Audio/Video (AV) Streaming Feature.
1.5.8. Write Stream Error Log
Тип: Журнал ошибок потоковой записи [Streaming]
Вид доступа: только чтение (RO)
Размер: 1 сектор (512 байт)
Примечание: поддерживается 48-битная адресация секторов
Данный журнал содержит информацию о возникших ошибках записи в период работы накопителя в потоковом режиме (streaming mode). В этом журнале сохраняется общее количество подобных ошибок, номер последней ошибки, предыдущее и текущее значения регистров состояния и ошибки, количество и LBA-номер сектора, на котором данная ошибка была зафиксирована. После чтения данного журнала, накопитель сбрасывает счетчик общего количества ошибок и очищает журнал. Содержимое журнала сохраняется только во время работы и очищается в момент следующего включения/выключения накопителя или при поступлении сигнала аппаратного сброса (hardware reset). Максимальное количество сохраняемых ошибок — 31.
1.5.9. Read Stream Error Log
Тип: Журнал ошибок потокового чтения [Streaming]
Вид доступа: только чтение (RO)
Размер: 1 сектор (512 байт)
Примечание: поддерживается 48-битная адресация секторов
Данный журнал содержит информацию о возникших ошибках чтения в период работы накопителя в потоковом режиме (streaming mode). В этом журнале сохраняется общее количество подобных ошибок, номер последней ошибки, предыдущее и текущее значения регистров состояния и ошибки; количество и LBA-номер сектора, на котором данная ошибка была зафиксирована. После чтения данного журнала, накопитель сбрасывает счетчик общего количества ошибок и очищает журнал. Содержимое журнала сохраняется только во время работы и очищается в момент следующего включения/выключения накопителя или при поступлении сигнала аппаратного сброса (hardware reset). Максимальное количество сохраняемых ошибок — 31.
1.5.10. Delayed LBA Sector Log
Тип: Vendor Specified [General Purpose Logging]
Вид доступа: только чтение (RO)
Размер: устанавливается производителем (VS)
Примечание: поддерживается 48-битная адресация секторов
Данный журнал содержит LBA-адреса всех секторов, которые были перемещены со своего нормального физического расположения, а также адреса границ недоступной последовательности секторов. Таким образом ведется журнал всех дефектных или нестабильных секторов. Максимальный размер журнала устанавливается производителем. Новое физическое расположение, метод и время доступа к замещенным секторам также устанавливается производителем и не документируется. Запись в данный журнал может быть добавлена в любой момент времени, при условии активности (питания) самого накопителя. Для процесса обновления журнала устанавливается наивысший приоритет и выполнение всех других команд приостанавливается. При этом удалить существующую запись из журнала не возможно. Содержимое журнала сохраняется при циклах включения/выключения накопителя и при поступлении сигнала аппаратного сброса (hardware reset).
1.5.11. ECC Uncorrectable Sector Log
Тип: Журнал неисправимых ошибок ECC [SMART Recovering]
Вид доступа: только чтение (RO)
Размер: 1 сектор (512 байт)
Примечание: поддерживается только 28-битная адресация секторов (28-bit LBA)
Данный журнал содержит список LBA-адресов секторов, на которых была зафиксирована и проигнорирована некорректируемая ошибка ECC при выполнении операции READ CONTINUOUS (см. AV feature). При этом, выполнение процедуры автоматического переназначения сбойного сектора (ADR — Automatic Defects Reassigment) накопителем заблокировано. Журнал может содержать до 126 записей.
Примечание. Данный журнал доступен для чтения только при разрешенной операции READ CONTINUOUS. В противном случае накопитель возвратит код ошибки ERR->ABRT, прервет выполнение команды или возвратит пустой журнал. После успешного чтения журнала, в самом накопителе он будет очищен.
1.5.12. Reassigned Sector Log
[under construction]
1.5.13. Drive Activity Log
[under construction]
1.5.14. Drive Time Buffer Log
[under construction]
1.5.15. Host Vendor Specific Log
Тип: Пользовательские журналы
Вид доступа: чтение/запись (R/W)
Размер: максимум 31 журнал по 16 секторов (253,952 байт)
Примечание: содержание и формат журнала — любое, на усмотрение пользователя
Этот вид журнала может быть использован для хранения произвольных пользовательских данных. Для записи этого журнала используется команда WRITE SMART LOG. Если данный журнал ни разу не был записан, то при чтении накопитель возвратит пустой журнал, заполненный нулями.
1.5.16. Device Vendor Specific Log
Тип: Технические журналы изготовителя
Вид доступа: не определен, на усмотрение производителя (VS)
Размер: максимум 31 журнал по 16 секторов (253,952 байт)
Примечание: содержание, формат и размеры журнала — на усмотрение производителя
Этот вид журнала предназначен для внутреннего использования фирменными утилитами производителя, для хранения результатов работы встроенных подпрограмм анализа и диагностики состояния накопителя и т.п. Возможность чтения/записи этого вида журнала устанавливается производителем и не не документируется.
Примечание. Новые накопители Seagate (модели Ux и Barracuda ATA) поддерживают и даже реально используют еще три вида журналов SMART, однако их назначение и описание пока не известны.
Встроенные функции самоконтроля
(self-test)
Практически с момента появления стандарта S.M.A.R.T. II, в большинстве накопителей появилась новая функция — внутренняя диагностика и самоконтроль, для углубленного контроля состояния механики накопителя, поверхности дисков и т.п. Для запуска этой функции, в набор команд S.M.A.R.T. была введена новая команда — SMART EXECUTE OFF-LINE IMMEDIATE. Результат работы сохраняется либо в специализированных атрибутах, либо отдельным параметром среди других данных в атрибутах. Если накопитель поддерживает журналы S.M.A.R.T., то результат выполнения тестов сохраняется также в журнале Self-test Log. После выполнения теста, накопитель в обязательном порядке обновляет показания во всех атрибутах и других параметрах. Если во время выполнения внутреннего теста накопитель получит по интерфейсу новую команду, то выполнение теста прерывается и накопитель приступает к обработке поступившей команды.
1.6.1. Методы тестирования
Существует два способа запуска тестов S.M.A.R.T.: автономный (off-line) или монопольный (captive). Результат теста всегда сохраняется накопителем в данных S.M.A.R.T. При автономном запуске накопитель сообщает о успешном завершении команды ДО ее ФАКТИЧЕСКОГО исполнения и только после этого выполняет тест. При этом, по интерфейсу флаг ЗАНЯТО (BSY) не выставляется и накопитель в любой момент готов приступить к выполнению очередной интерфейсной команды, приостанавливая работу теста. Фактически, тест выполняется в фоновом режиме. При запуске теста в монопольном режиме, по интерфейсу выставляется флаг ЗАНЯТО (BSY) и накопитель начинает непосредственное выполнение теста в режиме реального времени. Любая интерфейсная команда во время выполнения этого теста приведет к его прерыванию и остановке, после чего накопитель приступит к обработке поступившей команды.
1.6.2. Разновидности тестов S.M.A.R.T.
Официально документированы три вида внутренних тестов, однако еще существует набор так называемых «активных» тестов, функциональные особенности которых различны у разных производителей и для широкой публики не документированы.
| № |
Название теста |
off-line | captive |
|---|---|---|---|
| 1 | Off-line collection | + | — |
| 2 | Short Self-test | + | + |
| 3 | Extended Self-test | + | + |
| 4 | Drive Activity test #1..#4 | + | + |
Время тестирования может варьироваться от 1 секунды (Quantum) до 54 минут (Fujitsu MPG3409AT). Поддержка первого теста наиболее вероятна даже в очень старых накопителях 4-5 летней давности.
Второй и третий тесты появились относительно недавно, как дань внедренным сложным технологическим решениям — для полного контроля состояния накопителя пришлось реализовывать более глубокие и точные тесты. Поддержка 4-х «активных» тестов (см. таблицу, п.4) официально не документированна.
Реальный набор выполняемых тестами функций можно рассмотреть на примере тестов, поддерживаемых жесткими дисками Hitachi:
| Функция теста | Short Self test | Extended Self test | Off-line Collection |
|---|---|---|---|
| Raw Read Error Rate Test | YES | YES | YES |
| Write Test | YES | YES | NO |
| Servo Test | YES | YES | NO |
| Partial Read Scanning | YES | NO | NO |
| Full Read Scanning | NO | YES | YES |
Этот перечень тестов не является одинаковым для всех накопителей и приведен лишь в качестве примера.
Версия от 03.09.2001.
Эта работа была прислана на наш «бессрочный» конкурс статей, однако была снята с конкурса из-за многочисленных заимствований из этой работы.
Доброго времени суток, уважаемые читатели. Идея написать эту статью появилась у меня после того, как мне достался 10GB WesternDigital, сильно убитый (Windows 98 с него загружался около 10 минут, и постоянно включалась проверка диска при запуске компьютера). У владельца этого HDD S.M.A.R.T. был отключен, и поэтому не появлялось сообщения об ошибках. На моем компьютере в конце Post выскакивало сообщение – «Один из атрибутов S.M.A.R.T.(Seek Time Performance, как потом выяснилось) превысил пороговое значение, рекомендуется сделать резервную копию данных» (не помню как это на английском). Дальше компьютер не грузился. Загрузка продолжалась, когда S.M.A.R.T. был отключен в биосе. После отрезания бэдов диск все равно работал плохо. Обнуление атрибутов ни к чему не привело, после 2ой перезагрузки наблюдалась та же картина, вот и пришлось выяснять, что это за атрибут и с чем он связан.
В этой статье я постараюсь описать технологию S.M.A.R.T. – Self-Monitoring, Analysis and Reporting Technology («Технология Самодиагностики, Анализа и Отчета») — в доступной для понимания форме. Конечно, полностью охватить все ее возможности не возможно, т.к. в настоящее время отсутствует какая-либо полная документация по этому вопросу, да и производители накопителей о своих продвижениях в этой области сообщать не спешат.
Что такое S.M.A.R.T.
Итак, S.M.A.R.T. позволяет отслеживать и, самое главное, предсказывать возникновение ошибок, связанных с функционированием HDD, отсюда появляется возможность вовремя сделать резервную копию данных, тем самым избежать морального и материального ущерба от потери информации, ограничившись лишь покупкой нового диска.
S.M.A.R.T. – это набор программ, вшитых в микрокод винчестера. Каждая фирма-производитель дисков ведет свои разработки, отсюда и разнообразие параметров для разных дисков. Однако существуют общие параметры:
- Атрибуты, отражающие общее состояние диска (примерно 30);
- Внутренние тесты (self-tests);
- журналы S.M.A.R.T. (ошибок, общего состояния, дефектных секторов и т.п.).
Полный обязательный перечень S.M.A.R.T атрибутов описан в стандарте ATA/ATAPI-6.
рекомендации
3060 дешевле 30тр в Ситилинке
3070 Gigabyte Gaming за 50 тр с началом
<b>13900K</b> в Регарде по СТАРОМУ курсу 62
3070 Gainward Phantom дешевле 50 тр
10 видов <b>4070 Ti</b> в Ситилинке — все до 100 тр
13700K дешевле 40 тр в Регарде
MSI 3050 за 25 тр в Ситилинке
13600K дешевле 30 тр в Регарде
4080 почти за 100тр — дешевле чем по курсу 60
12900K за 40тр с началом в Ситилинке
RTX 4090 за 140 тр в Регарде
Компьютеры от 10 тр в Ситилинке
3060 Ti Gigabyte дешевле 40 тр в Регарде
3070 дешевле 50 тр в Ситилинке
-7% на 4080 Gigabyte Gaming
Атрибуты S.M.A.R.T.
Атрибуты S.M.A.R.T. – особые характеристики, которые используются при анализе состояния и запаса производительности накопителя. Они выбираются производителем, основываясь на их способности предсказывать ухудшение рабочих характеристик накопителя или определить его дефектность.
Значения атрибутов (value) используются для представления относительной надежности отдельного эксплуатационного или эталонного атрибута. Допустимое значение атрибута лежит в диапазоне от 1 до 255. Его высокое значение говорит о том, что результат анализа данной рабочей характеристики указывает на низкую вероятность ее ухудшения или выхода накопителя из строя. Соответственно, низкое значение атрибута говорит о том, что результат анализа данной рабочей характеристики указывает на высокую вероятность ее ухудшения или выхода накопителя из строя.
Каждый атрибут имеет собственное пороговое значение (threshold), которое используется для сравнения со значением атрибута (value) и указывает на ухудшение рабочих характеристик или дефектность накопителя. Числовое значение порогового атрибута определяется производителем через конструкционные особенности накопителя и анализ результатов испытаний на надежность. Пороговое значение каждого атрибута указывает на его нижнюю допустимую границу, до которой накопитель нормально функционирует.
Ниже приведено краткое описание основных атрибутов:
Raw Read Error Rate — Частота появления ошибок при чтении данных с диска. Данный параметр показывает частоту появления ошибок при операциях чтения с поверхности диска по вине аппаратной части накопителя.
Throughput Performance — Средняя производительность (пропускная способность) диска. Уменьшение значения value этого атрибута с большой вероятностью указывает на проблемы в накопителе.
Spin Up Time — Время раскрутки шпинделя. Среднее время раскрутки шпинделя диска от 0 RPM до рабочей скорости.
Start/Stop Count — Количество циклов запуск/останов шпинделя. Хранит общее количество включений/выключений диска.
Reallocated Sectors Count — Количество переназначенных секторов. Когда жесткий диск встречает ошибку чтения/записи/верификации, он пытается переместить данные в специальную резервную область (spare area) и, в случае успеха, помечает сектор как «переназначенный». Также, этот процесс называют remapping, а переназначенный сектор — remap. Благодаря этой возможности, на современных жестких дисках очень редко видны (при тестировании поверхности) так называемые bad block. Однако, при большом количестве ремапов, на графике чтения с поверхности будут заметны «провалы» — резкое падение скорости чтения (до 10% и более).
Seek Error Rate — Частота появления ошибок позиционирования МГ (магнитной головки). В случае сбоя в механической системе позиционирования, повреждения сервометок (servo), сильного термического расширения дисков и т.п. возникают ошибки позиционирования. Чем их больше, тем хуже состояние механики и/или поверхности жесткого диска.
Seek Time Performance — Средняя производительность операций позиционирования МГ. Данный параметр показывает среднюю скорость позиционирования привода МГ на указанный сектор. Снижение значения этого атрибута говорит о неполадках в механике привода.
Power-On Hours — Количество отработанных часов во включенном состоянии. Значение value этого атрибута показывает количество часов (минут, секунд — в зависимости от производителя), отработанных жестким диском. Снижение значения атрибута до критического уровня (threshold) указывает на выработку диском ресурса. На практике, даже падение этого атрибута до нулевого значения не всегда указывает на реальное исчерпывание ресурса и накопитель может продолжать нормально функционировать.
Spin Retry Count — Количество повторов попыток старта шпинделя диска. Данный атрибут фиксирует общее количество попыток раскрутки шпинделя и его выхода на рабочую скорость, при условии, что первая попытка была неудачной. Снижение значения этого атрибута говорит о неполадках в механике привода.
Recalibration Retries — Количество повторов попыток рекалибровки накопителя. Данный атрибут фиксирует общее количество попыток сброса состояния накопителя и установки головок на нулевую дорожку, при условии, что первая попытка была неудачной. Снижение значения этого атрибута говорит о неполадках в механике привода.
Device Power Cycle Count — Количество полных циклов запуска/останова жесткого диска.
Soft Read Error Rate — Частота появления «программных» ошибок при чтении данных с диска. Данный параметр показывает частоту появления ошибок при операциях чтения с поверхности диска по вине программного обеспечения, а не аппаратной части накопителя.
Load/Unload Cycle Count — Количество циклов вывода МГ в специальную парковочную зону/в рабочее положение.
Temperature — Температура. Данный параметр отражает показание встроенного температурного сенсора в градусах Цельсия.
Reallocation Event Count — Количество операций переназначения (ремаппинга). Показывает общее количество попыток переназначения сбойных секторов в резервную область, предпринятых накопителем. При этом, учитываются как успешные, так и неудачные операции.
Current Pending Sector Count — Текущее количество нестабильных секторов. Показывает общее количество секторов, которые накопитель в данный момент считает претендентами на переназначение в резервную область (remap). Если в дальнейшем какой-то из этих секторов будет прочитан успешно, то он исключается из списка претендентов. Если же чтение сектора будет сопровождаться ошибками, то накопитель попытается восстановить данные и перенести их в резервную область, а сам сектор пометить как переназначенный (remapped).
Uncorrectable Sector Count — Количество нескорректированных ошибок. Атрибут показывает общее количество ошибок, возникших при чтении/записи сектора, которые не удалось скорректировать. Рост значения в поле raw value этого атрибута указывает на явные дефекты поверхности и/или проблемы в работе механики накопителя.
UltraDMA CRC Error Count — Общее количество ошибок CRC в режиме UltraDMA, содержит количество ошибок, возникших в режиме передачи данных UltraDMA в контрольной сумме (ICRC — Interface CRC). В большинстве случаев ошибки CRC возникают при сильном завышении частоты PCI (больше номинальных 33.3 MHz), сильно перекрученом кабеле, а также — по вине драйверов ОС, которые не соблюдают требований к передачи/приему данных в режимах UltraDMA.
Write Error Rate — Частота появления ошибок при записи данных. Показывает общее количество ошибок, обнаруженных во время записи сектора. Чем ниже значение value, тем хуже состояние поверхности диска и/или механики привода.
Disk Shift — Сдвиг пакета дисков относительно оси шпинделя.
G-Sense Error Rate — Частота появления ошибок в результате ударных нагрузок. Данный атрибут хранит показания ударочувствительного сенсора — общее количество ошибок, возникших в результате полученных накопителем внешних ударных нагрузок (при падении, неправильной установке, и т.п.).
Здесь приведены атрибуты, с помощью которых можно определить надежность функционирования диска. Остальные же не представляют практической важности.
Автономное сканирование поверхности (off-line read scanning).
Большинство накопителей обеспечивают поддержку автономного сканирования поверхности, которое является одной из функций подпрограммы автономного сбора данных о состоянии накопителя (off-line data collection). При выполнении этой функции, накопитель выполняет полное сканирование поверхности путем чтения каждого сектора с замещением ненадежных секторов на запасные из резервной области (spare area) для предотвращения потери пользовательских данных.
Примечание! Если во время выполнения сканирования накопитель получает команду по интерфейсу, то процесс сканирования прерывается и накопитель приступает к обработке поступившей команды. При этом гарантируется максимальное время реагирования на поступившую команду — до 2 секунд.
Встроенные функции самоконтроля (self-test)
Практически с момента появления стандарта S.M.A.R.T. II, в большинстве накопителей появилась новая функция — внутренняя диагностика и самоконтроль, для углубленного контроля состояния механики накопителя, поверхности дисков и т.п. Для запуска этой функции, в набор команд S.M.A.R.T. была введена новая команда — SMART EXECUTE OFF-LINE IMMEDIATE. Результат работы сохраняется либо в специализированных атрибутах, либо отдельным параметром среди других данных в атрибутах
После выполнения теста, накопитель в обязательном порядке обновляет показания во всех атрибутах и других параметрах. Если во время выполнения внутреннего теста накопитель получит по интерфейсу новую команду, то выполнение теста прерывается и накопитель приступает к обработке поступившей команды.
Методы тестирования.
Существует два способа запуска тестов S.M.A.R.T.: автономный (off-line) или монопольный (captive). Результат теста всегда сохраняется накопителем в данных S.M.A.R.T.
При автономном запуске накопитель сообщает о успешном завершении команды до ее фактического исполнения и только после этого выполняет тест. При этом, по интерфейсу флаг «занято» (busy) не выставляется и накопитель в любой момент готов приступить к выполнению очередной интерфейсной команды, приостанавливая работу теста. Фактически, тест выполняется в фоновом режиме.
При запуске теста в монопольном режиме, по интерфейсу выставляется флаг «занято» (busy) и накопитель начинает непосредственное выполнение теста в режиме реального времени. Любая интерфейсная команда во время выполнения этого теста приведет к его прерыванию и остановке, после чего накопитель приступит к обработке поступившей команды.
Монитор параметров S.M.A.R.T. программа SIGuardian.
Существует большое количество программ, контролирующих SMART, это может быть специально направленная программа (Drive Health, SIGuardian), или программа, содержащая контроль параметров SMART как дополнительную функцию. На мой взгляд, наиболее функциональной является SIGuardian (http://www.siguardian.ru/). Программа предоставляет возможность следить за практически всеми атрибутами SMART, имеет приятный интерфейс, и обладает большим количеством настроек.
Общие сведения о дисках.

Рис. 1

Рис. 2
Закладка «Общие» содержит общую информацию о выбранном жестком диске. В левой половине указаны: технические характеристики, такие как объем диска, количество цилиндров, головок и т.п.; режим работы диска в настоящий момент (PIO, multiword DMA, UDMA); поддерживаемые режимы работы диска (только в Расширенном режиме). В правой половине показывается логотип фирмы-производителя жесткого диска и ниже – общая информация о диске: модель диска, серийный номер диска, дата/ревизия прошивки микропрограммы.
Обратите внимание, на рис. 1 отсутствует показание температуры. Диск достаточно старый и не обладает таким сенсором.
Общие сведения S.M.A.R.T.

Рис. 3.
Закладка «S.M.A.R.T.» показывает общую информацию о состоянии диска на основе S.M.A.R.T. атрибутов или S.M.A.R.T. – информацию:
- Дату начала мониторинга S.M.A.R.T. – т.е. дату, когда вы начали контроль за состоянием диска при помощи SIGuardian. Чаще всего, это дата первого запуска SIGuardian.
- Ближайшую прогнозируемую дату T.E.C. (ThresholdExceedCondition) – т.е. дату, когда по прогнозам SIGuardian один из S.M.A.R.T. атрибутов достигнет порогового (критического) значения.
S.M.A.R.T. подробно

Рис.4.
Закладка «Подробно» предназначена для отображения полной информации о S.M.A.R.T.-атрибутах диска. Она показывает:
- Attribute name – Графическое отображение значения атрибута. При наводке указателя мыши на него показывается в окне всплывающей подсказки более подробное текстовое описание смысла этого атрибута;
- 1/month – скорость падения атрибута – на сколько пунктов в месяц упало значение атрибута. Этот коэффициент вычисляется автоматически при любом изменении атрибутов S.M.A.R.T. для каждого атрибута в отдельности. Вычисление производится ежедневно, поэтому относитесь нормально к колебаниям этого показателя, особенно сразу после изменения атрибута;
- Value – значение атрибута – текущее значение данного атрибута S.M.A.R.T.;
- Threshold – пороговое (критическое) значение атрибута – значение, величину которого производитель жесткого диска считает критической и при достижении которого вполне вероятен выход диска из строя;
- T.E.C. – Threshold Exceeds Condition – предполагаемая дата, когда данный атрибут достигнет порогового значения, иначе говоря, дата возможного выхода из строя диска. Прогноз этой даты делается на основе показателя «скорости падения атрибута», поэтому не удивляйтесь сильным колебаниям даты сразу после изменения атрибутов S.M.A.R.T.;
- Worst – худшее значение атрибута – самое худшее (минимальное) значение, которое данный атрибут принимал за всё время жизни жесткого диска. Может использоваться чисто в ознакомительных целях;
- Raw — «чистое» значение атрибута – просто числовое значение атрибута в чистом, необработанном виде.
Настройки

Рис. 5.
Закладка «Настройка» предназначена для самостоятельной настройки пользователем параметров SIGuardian для работы на компьютере. Если вы не считаете себя опытным пользователем, рекомендуем воспользоваться «Мастером настройки» — он поможет вам выбрать наиболее подходящие параметры работы.
Основные и наиболее важные настройки:
При загрузке проверка и выход – отметьте этот режим, если вы хотите чтобы SIGuardian проверял состояние S.M.A.R.T. только при загрузке операционной системы.
Общие настройки для всех дисков – SIGuardian будет использовать общие настройки для всех дисков в компьютере. Они включают: контроль S.M.A.R.T., период опроса S.M.A.R.T. и адрес электронной почты для сообщений. Вы можете установить общие или индивидуальные для каждого диска параметры.
Включить контроль S.M.A.R.T. – при выключении этого режима SIGuardian не будет проверять этот диск (или все диски) на значения атрибутов S.M.A.R.T.
Режим работы – Обычный или Расширенный – Обычный режим – основной для пользователей. В этом режиме SIGuardian показывает значение атрибута, пороговое значение и T.E.C., скорость падения атрибута. На закладке «Общее» Вы не увидите информации о поддерживаемых диском режимах работы (передачи данных). В расширенном режиме дополнительно показывают Худшее и Чистое (Raw) значение атрибута и полную информацию о диске на закладке «Общее».
Опрос S.M.A.R.T. – установите здесь период опроса S.M.A.R.T. при работе SIGuardian фоном.
Отчеты на e-mail – введите здесь адрес электронной почты, на который SIGuardian должен посылать сообщения. Вы не должны видеть никаких сообщений при работе в этом случае.
WiseControl – информация только о значительных изменениях (ухудшениях) параметров S.M.A.R.T.
Hibernate on overheat temperature – если температура HDD превышает установленное значение, компьютер переходит в режим hibernate.
Кутюгин Игорь.
Ждём Ваших комментариев в специально созданной ветке конференции.
Таким образом, ненулевой параметр на дисках WD и Samsung до SpinPoint F1 (невключительно) и большое значение параметра на дисках Hitachi могут указывать на аппаратные проблемы с диском. На дисках Seagate, Samsung (SpinPoint F1 и новее) и Fujitsu на этот атрибут можно не обращать внимания.
Практически ничего не говорит о здоровье диска. Время разгона может различаться у разных дисков (даже одного и того же производителя) в зависимости от тока раскрутки, массы блинов, номинальной скорости шпинделя и т.п. Винчестеры Fujitsu всегда имеют 1 в этом поле в случае отсутствия проблем с раскруткой шпинделя.
Start/Stop Count
Чем больше это значение, тем хуже состояние поверхности дисков. При достижении определённого порогового значения (например, 10 ремапов) диск нужно обязательно менять, ведь это означает прогрессирующую деградацию состояния поверхности блинов, головок или другие аппаратные проблемы.
Чем их больше, тем хуже состояние механики и/или поверхности жёсткого диска. Также на значение параметра может повлиять перегрев и внешние вибрации (например, от соседних дисков в корзине).
На дисках Seagate, Samsung SpinPoint F1 и новее и Fujitsu 2,5″ на значение атрибута можно не обращать внимание, на остальных моделях Samsung, а также на всех WD и Hitachi ненулевое значение свидетельствует об аппаратных проблемах. Для винчестеров Hitachi нормальным значением является только 0.
Power-on Time
В идеале должен быть равен 0. При значении атрибута, равном 1-2, внимания можно не обращать. Если значение больше, в первую очередь следует обратить пристальное внимание на состояние блока питания, его качество, нагрузку на него, проверить контакт винчестера с кабелем питания, проверить сам кабель питания.
Recalibration Retries
UNC Error
Такие ошибки могут возникать из-за плохого качества кабелей, контактов, используемых переходников, удлинителей и т.д., а также из-за несовместимости диска с конкретным контроллером SATA/РАТА. Из-за ошибок такого рода возможны «синие экраны смерти» в Windows. Ненулевое значение атрибута говорит о потенциальной «болезни» диска.
Для того, чтобы сказать, почему происходят такие случаи, нужно уметь анализировать логи SMART, которые содержат специфичную для каждого производителя информацию, что на сегодняшний день не реализовано в общедоступном ПО.
Mechanical Shock
Актуален для мобильных винчестеров. На дисках Samsung на него часто можно не обращать внимания, т.к. они могут иметь очень чувствительный датчик, который, образно говоря, реагирует чуть ли не на движение воздуха от крыльев пролетающей в одном помещении с диском мухи.
Emergency Retry Count
HDA Temperature
HDD Temperature
Косвенно говорит о здоровье диска. Чем больше значение — тем хуже. Однако нельзя однозначно судить о здоровье диска по этому параметру, не рассматривая другие атрибуты.
При ненулевом значении нужно обязательно запустить в программах Victoria или MHDD последовательное чтение всей поверхности с опцией remap. Тогда при сканировании диск обязательно наткнётся на плохой сектор и попытается произвести запись в него (в случае Victoria 3.5 и опции Advanced remap диск будет пытаться записать сектор до 10 раз). Таким образом программа спровоцирует «лечение» сектора, и в итоге он будет либо исправлен, либо переназначен.
В подавляющем большинстве случаев причинами ошибок становятся некачественный шлейф передачи данных, разгон шин PCI/PCI-E либо плохой контакт в SATA-разъёме на диске или на материнской плате/контроллере. Для Hitachi серий Deskstar 7К3000 и 5К3000 растущий атрибут может говорить о несовместимости диска и SATA-контроллера. Чтобы исправить ситуацию, нужно принудительно переключить такой диск в режим SATA 3 Гбит/с.
Multi-Zone Error Rate